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首页 > 产品服务 > 半导体封装测试设备
Inline Wafer AOI System
    发布时间:2022-09-22    


设备介绍

用途：检测200um晶圆点胶后的胶体覆盖品质

特点：Vision检测200um晶圆，陶瓷吸盘，六轴机械手插片

技术参数：定位精度±0.03mm UPH >120K/H